一、仪器简介

  X射线衍射仪（XRD）用于X射线衍射和散射分析的硬件和软件解决方案，包括相鉴定、定量相分析、微观结构和晶体结构分析。

二、仪器参数

  仪器型号：BRUKER D8 ADVANCE
  扫描模式：theta、2theta，范围5~120°

  最大功率3 kW，Cu 靶

  一维阵列式LynxEye XE-T 探测器

  能量分辨优于380 eV
  测角仪精度0.0001°，最小步长 0.0001°

三、工艺能力

  能够精确地对金属和非金属多晶样品进行物相定性定量分析结晶度分析、晶胞参数计算和固溶体分析，微观应力及晶粒大小分析。

四、样品要求

  1、金属样品如块状、板状、圆柱状要求磨成一个平面，面积不小于10X10毫米，如果面积太小可以用几块粘贴一起。

       2、粉末样品：磨成200目的粒度，约70微米。粒度粗大衍射强度底，峰形不好，分辨率低。

    块体样品：表面光滑平整无污染，长宽尺寸大于10 mmx10 mm，2 mm<高度<18 mm。

    薄膜样品：长宽尺寸大于10 mm，表面平整，需注明膜的大概厚度（如果膜比较薄，建议做小角掠射，减弱基底的峰对于测试结果的影响）。

       3、粉末样品要求在3克左右，如果太少也需5毫克。
       4、样品可以是金属、非金属、有机、无机材料粉末。要了解样品的物理化学性质，如是否易燃，易潮解，易腐蚀、有毒、易挥发。

五、结果展示 

刚玉测试结果