一、仪器简介

原子力显微镜（AFM）是通过扫描探针与样品表面原子相互作用而成像的新型表面分析仪器。拥有全自动、多功能、高扫描速度，能够轻易实现高分辨率的成像和高精度的测量。

二、仪器参数

型号：OXFORD Jupiter XR

X-Y闭环传感器（<150pm噪声）Adev 1Hz-1kHz，可实现无畸变的闭环成像

Z轴闭环传感器（<35pm噪声）Adev1Hz-1kHz，让测量更精确，更具重复性

直流检测器噪声<10pm

交流检测器噪声<30pmHz-100kHz以上

检测器带宽：DC到7MHz

三、工艺能力

形貌分析：通过原子力显微镜我们可以获得纳米材料，高分子材料，生物样品，金属材料，陶瓷材料，薄膜材料的表面形貌信息，以及表面高低起伏信息，粗糙度信息。

电学性能分析：

1、表征材料表面的电势分布，对其电学性能进行研究。

2、符表征材料表面的电荷分布，可对各种光电材料在维纳尺度上的电荷分布进行研究。

3、扫描电容探测样品表面电容的变化，通过测出差分电容dc/dv进而区分n型材料和p型材料

力学性能分析：利用探针在样品表面进行下压获得样品的力曲线，可用于表征材料在皮牛量级的力学性能，测模量或者损耗因子。

磁性分析：表征样品表面的磁畴分布，主要用于对磁性样品的研究，如研究磁盘表面的磁畴分布。

四、样品要求

块体或有基底的薄膜样品请尽量提供尺寸（1cm×1cm）且表面平整的样品，尺寸可以稍大，标明面测试面。

五、结果展示

AM-FM模量成像显示了食品包装膜的组成部分